Análise da influência da temperatura no auto-teste de circuitos analógicos : método baseado em osciladores
dc.contributor.author | Toson, Fabiano | pt_BR |
dc.contributor.author | Cota, Erika Fernandes | pt_BR |
dc.contributor.author | Carro, Luigi | pt_BR |
dc.contributor.author | Lubaszewski, Marcelo Soares | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2013-12-03T01:48:27Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2000 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/81733 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.relation.ispartof | Salão de Iniciação Científica (12. : 2000 : Porto Alegre). Livro de resumos. Porto Alegre : UFRGS, 2000. | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.subject | Engenharia elétrica | pt_BR |
dc.title | Análise da influência da temperatura no auto-teste de circuitos analógicos : método baseado em osciladores | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Salão de iniciação Científica (12. : 2000 set. 11-15 : UFRGS, Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.identifier.nrb | 000299919 | pt_BR |
dc.subject.session | Engenharia Elétrica I | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Engenharias | pt_BR |
dc.description.number | 025 | pt_BR |
dc.type.origin | Nacional | pt_BR |
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