Caracterização de dispositivos MOSFET em tecnologias nanométricas
dc.contributor.advisor | Butzen, Paulo Francisco | pt_BR |
dc.contributor.author | Souza, Laís Lopes de | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2023-07-04T14:14:37Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2022 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/260942 | pt_BR |
dc.format.mimetype | video/mp4 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | pt_BR |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.title | Caracterização de dispositivos MOSFET em tecnologias nanométricas | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Salão de Iniciação Científica (34. : 2022 set. 26-30 : UFRGS, Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.subject.theme | Engenharia elétrica | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Engenharias | pt_BR |
dc.type.presentation | Apresentação oral | pt_BR |
dc.identifier.sic | 77093 | pt_BR |
dc.subject.macro | Engenharia | pt_BR |
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Engenharias (190)