ANÁLISE DO VOLTAGE SCALING EM PORTAS LÓGICAS XOR UTILIZANDO DISPOSITIVOS FINFET
dc.contributor.advisor | Reis, Ricardo Augusto da Luz | pt_BR |
dc.contributor.author | Brendler, Leonardo Heitich | pt_BR |
dc.contributor.author | Zimpeck, Alexandra Lackmann | pt_BR |
dc.contributor.author | Aguiar, Ygor Quadros de | pt_BR |
dc.date.accessioned | 2018-05-04T15:59:46Z | pt_BR |
dc.date.issued | 2017 | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10183/177475 | pt_BR |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.format.mimetype | video/mp4 | |
dc.language.iso | por | pt_BR |
dc.rights | Open Access | en |
dc.title | ANÁLISE DO VOLTAGE SCALING EM PORTAS LÓGICAS XOR UTILIZANDO DISPOSITIVOS FINFET | pt_BR |
dc.type | Resumo publicado em evento | pt_BR |
dc.contributor.event | Feira de Inovação Tecnológica da UFRGS (7. : 2017 out. 16-20 : Porto Alegre, RS). | pt_BR |
dc.subject.session | Sessao 1 | pt_BR |
dc.subject.cnpq | Engenharias | pt_BR |
dc.type.presentation | Apresentação oral | pt_BR |
dc.description.number | 12 | pt_BR |
dc.identifier.sic | 57221 | pt_BR |
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FINOVA 2017 (94)